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涂層測厚儀的選擇
點擊次數:83 發布時間:2022-03-23

選擇方法

用戶可以根據測量的需要選用不同的測厚儀,磁性測厚儀和渦流測厚儀一般測量的厚度適用0-5毫米,這類儀器又分探頭與主機一體型,探頭與主機分離型,前者操作便捷,后者適用于測非平面的外形。更厚的致密材質材料要用超聲波測厚儀來測,測量的厚度可以達到0.7-250毫米。電解法測厚儀適合測量很細的線上面電鍍的金、銀等金屬的厚度。
 

集合了磁性測厚儀和渦流測厚儀兩種儀器的功能,可用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。如:

* 鋼鐵上的銅、鉻、鋅等電鍍層或油漆、涂料、搪瓷等涂層厚度。
* 鋁、鎂材料上陽極氧化膜的厚度。
* 銅、鋁、鎂、鋅等非鐵金屬材料上的涂層厚度。
* 鋁、銅、金等箔帶材及紙張、塑料膜的厚度。
* 各種鋼鐵及非鐵金屬材料上熱噴涂層的厚度。
 

儀器特點

采用雙功能內置式探頭,自動識別鐵基或非鐵基體材料,并選擇相應的測量方式進行測量。
符合人體工程學設計的雙顯示屏結構,可以在任何測量位置讀取測量數據。
采用手機菜單式功能選擇方式,操作十分簡便。
可設定上下限值,測量結果超出或符合上下限數值時,儀器會發出相應的聲音或閃爍燈提示。
穩定性很高,通常不必校正便可長期使用。
技術規格
量 程: 0~2000μm ,
電 源: 兩節5號電池
標準配置

常規型

對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層,如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等,在有關國家和標準中稱為覆層(coating)。
覆層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要一環,是產品達到優等質量標準的*手段。
覆層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。
X射線和β射線法是無接觸無損測量,但裝置復雜昂貴,測量范圍較小。因有放射源,使用者必須遵守射線防護規范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
隨著技術的日益進步,特別是近年來引入微機技術后,采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米,精度可達到1%,有了大幅度的提高。它適用范圍廣,量程寬、操作簡便且價廉,是工業和科研使用廣泛的測厚儀器。
采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材,檢測速度快,能使大量的檢測工作經濟地進行。
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